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首頁光譜知識文庫 日本理學波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點分析及面掃描分析

日本理學波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點分析及面掃描分析

2020年04月13日10:40 儀德

廣州儀德公司專業銷售日本理學波譜，波譜不限于材料的形狀，應用多領域金屬元素的測定分析。本文章簡單介紹日本理學ZSXPrimusⅣ波長X射線熒光光譜儀對巖石樣品的定點分析及面掃描分析，為礦石領域對巖石測定分析提供寶貴經驗。


使用儀器分析室內置的相機將巖石樣品中需要關注的測量范圍放大后進行了分析。


紅框內擴大了的范圍由右圖表示。


可以更精密地指定測量位置。


面掃3描分析結果

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